PolyK Technologies

Direct Electrocaloric Effect Test System / 直接電卡效應測試系統

電源供應器
前級放大器
控制系統


樣品夾具(Sample Holder)
保護電路


系統說明

  1. QM Zhang 教授發明,可直接量測電卡效應材料所產生的熱量。

  2. 具備本質精準的校正流程,以確保熱量量測的準確性。

  3. 整合式樣品夾具設計,可在校正模式與高電壓測試間快速切換。

  4. 設有保護電路,以保護 Stanford Research Systems SR560 前級放大器。

  5. 微型熱通量感測器,可同時量測熱通量與溫度,體積小、熱質量低。

    • 反應速度:快於 0.1 秒

    • 熱阻:0.01 °F/BTU/ft²·hr

    • 輸出訊號:> 3 μV/BTU/ft²·hr

    • 熱容量:0.02 BTU/ft²/°F

  6. 採用原廠 Stanford Research Systems SR560 低雜訊前級放大器,具寬頻寬、雜訊濾波與可變放大功能。

系統規格

  1. 量測溫度範圍:-50 °C 至 200 °C

  2. 反應時間:優於 100 毫秒

  3. 樣品尺寸:最大 20 mm × 20 mm

  4. 熱通量感測器靈敏度:> 3 μV/BTU/ft²·hr

  5. 資料擷取系統:16 位元 ADA

  6. 軟體控制量測系統,支援自動多頻率/多循環/多電壓測試

  7. 低雜訊前級放大器,亦可應用於一般電性量測

    • 增益範圍:1 ~ 50,000

    • 頻寬:1 MHz

    • 輸入雜訊:4 nV/√Hz

系統架構圖說明

  • 低雜訊前級放大器

  • 極化回線(PE Loop)或控制器

  • 電腦

  • 溫度控制器

  • 樣品夾具(含溫控)

  • 5 V 加熱電源

  • 高電壓放大器


應用領域

支援以下領域之研發與產品開發:

      • 高電壓高分子介電材料

      • 壓電材料與智慧材料

      • 量測儀器(極化回線、極化處理、放大器)

      • 壓電感測器、致動器、換能器、水聽器

      • R2R 連續製程之 PVDF 壓電薄膜製造

      • PVDF 感測器等