PolyK Technologies
Direct Electrocaloric Effect Test System / 直接電卡效應測試系統
電源供應器
前級放大器
控制系統
樣品夾具(Sample Holder)
保護電路
系統說明
-
由 QM Zhang 教授發明,可直接量測電卡效應材料所產生的熱量。
-
具備本質精準的校正流程,以確保熱量量測的準確性。
-
整合式樣品夾具設計,可在校正模式與高電壓測試間快速切換。
-
設有保護電路,以保護 Stanford Research Systems SR560 前級放大器。
-
微型熱通量感測器,可同時量測熱通量與溫度,體積小、熱質量低。
-
反應速度:快於 0.1 秒
-
熱阻:0.01 °F/BTU/ft²·hr
-
輸出訊號:> 3 μV/BTU/ft²·hr
-
熱容量:0.02 BTU/ft²/°F
-
-
採用原廠 Stanford Research Systems SR560 低雜訊前級放大器,具寬頻寬、雜訊濾波與可變放大功能。
系統規格
-
量測溫度範圍:-50 °C 至 200 °C
-
反應時間:優於 100 毫秒
-
樣品尺寸:最大 20 mm × 20 mm
-
熱通量感測器靈敏度:> 3 μV/BTU/ft²·hr
-
資料擷取系統:16 位元 ADA
-
軟體控制量測系統,支援自動多頻率/多循環/多電壓測試
-
低雜訊前級放大器,亦可應用於一般電性量測
-
增益範圍:1 ~ 50,000
-
頻寬:1 MHz
-
輸入雜訊:4 nV/√Hz
-
系統架構圖說明
-
低雜訊前級放大器
-
極化回線(PE Loop)或控制器
-
電腦
-
溫度控制器
-
樣品夾具(含溫控)
-
5 V 加熱電源
-
高電壓放大器
應用領域
支援以下領域之研發與產品開發:
-
-
-
高電壓高分子介電材料
-
壓電材料與智慧材料
-
量測儀器(極化回線、極化處理、放大器)
-
壓電感測器、致動器、換能器、水聽器
-
R2R 連續製程之 PVDF 壓電薄膜製造
-
PVDF 感測器等
-
-



