NeoTec
Automatic Layer thickness measurement / 自動膜厚測量儀
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Neotec 的 ALTM（Advanced Layer Thickness Measurement） 系統主要是透過：
光學反射干涉原理（Optical Interference / Reflectometry）
其核心概念是：
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對樣品表面照射寬頻或特定波長光源
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光在不同材料層界面發生反射
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不同反射光之間產生干涉訊號
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透過光譜分析與數學模型反推：
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單層或多層膜厚
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各層厚度分佈
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均勻性
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👉 完全不需要接觸樣品，也不需要破壞樣品
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特徵：
- 自動材料檢測（鋼/鋁）；
- 自動校準；
- 自動測量；
- 支援多層架構；
- 可調式偏移量、螺距和測量次數；
- 用戶模板的儲存；
- 層拓撲可視化；
- ISO 2808
- 最大板材尺寸為 800x500mm（或可客製尺寸）。
規格
簡單且全自動：
這款設備能夠全自動測量大型板材的厚度變化。它配備金屬基材面板感測器，可自動偵測鋼或鋁基材。該設備操作簡便，易於使用。我們可以根據您的應用需求調整測量類型或設備尺寸。
優化您的流程：
借助該軟體，您可以輕鬆設定待測座標，並清晰地查看已設定的參數。如果需要測量多層塗層，則需要設定層數。
參數設定完成後，機器即可全自動測量。
如果這些設定值需要經常使用，可以將其儲存為模板，以便隨時重新開啟。測量過程中，軟體會立即顯示以微米為單位的測量值。測量塗層分佈有助於優化噴塗工藝，從而防止不均勻的塗層。我們可以根據您的需求調整測量類型或機器尺寸，以滿足您的應用需求。測量數據可以輕鬆導出。
